2019年8月15日，中国计量测试学会集成电路测试专业委员会首届集成电路测试高峰论坛在北京九华山庄酒店隆重召开。
       高峰论坛在中国计量测试学会马爱文秘书长的致词中拉开帷幕，论坛由集成电路测试专委副主任兼秘书长、中国科学院计算技术研究所李华伟研究员主持，集成电路测试专委主任、计算机体系结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员、日本九州工业大学温晓青教授（IEEE Fellow）、新竹清华大学黄锡瑜教授、武汉大学何怡刚教授四位讲者进行了精彩报告，来自清华大学、北京大学、中国科学院、复旦大学、同济大学、上海交通大学、合肥工业大学等集成电路测试技术领域相关研究所、高校的领导专家和来自Advantest、美国国家仪器、摩尔精英、苏州华兴源创等集成电路测试技术领域相关企业的技术专家50余人参加了此次论坛。
        
       论坛在李华伟副主任的主持下开启，首先她为大家详细介绍了论坛背景及每位演讲嘉宾的学术履历与学术任职，并简明扼要的提炼了演讲内容。
       中国计量测试学会马爱文秘书长发表讲话，他表示，集成电路测试专委成立一年以来作出了许多卓有成效的工作与成绩。集成电路测试是国家大力发展芯片产业宏伟蓝图的核心环节，中国计量测试学会将一如既往的大力支持专委发展，积极组织各类学术活动，促进成员交流、助推产业升级。
    
        集成电路测试专委主任、计算机体系结构国家重点实验室常务副主任李晓维研究员带来题为《我国VLSI测试技术发展的回顾与展望》报告，报告中李晓维主任以中科院计算所为例介绍了集成电路测试技术在中科院计算所从提出到发展的历程，包括早期在中科院计算所研制大型机时测试技术发挥的重要作用，以及在龙芯等芯片设计和测试过程中曾取得过的瞩目成绩，并反思了过去十多年来错失过的研究节点，对未来集成电路测试技术面临的前沿难题做出了展望。该报告在分享经验的同时也希望总结教训，促进专委向有深度有布局有前瞻的方向更好的发展。
       
         日本九州工业大学温晓青教授带来题为《LSI Test: from Research to Business》的报告，报告中温晓青教授指出大规模集成电路测试是一个成功的半导体行业的核心技术领域，因为它在实现大规模集成电路产品的质量、可靠性、安全性和成本目标方面不可或缺。他从研究和商业的角度对大规模集成电路测试进行了全面的概述，并就大规模集成电路测试所面临的主要挑战和机遇进行了阐述。
        新竹清华大学黄锡瑜教授带来题为《A Detective Story of the Clock Network in an IC — Finding the Timing Failure Threats》的报告，报告中指出对于应用于安全关键应用的集成电路，通常需要非常高的制造质量，以确保在现场操作时几乎为零的故障率。要实现这一目标，不仅需要对主要功能块（如CPU和内存），而且还需要对时钟网络等片上基础设施进行全面测试。然而，时钟网络不仅设计困难，而且测试具有挑战性。对于具有严格时钟偏差要求的高性能设计，时钟网络中的小缺陷可能导致意外故障，因此需要在制造测试期间进行识别。该报告特别强调了针对时钟网络中是否存在小时延故障的测试技术研究，实验结果表明，能够检测到小于100ps的小时延故障。
       武汉大学何怡刚教授带来题为《基于深度学习的模拟电路故障诊断与预测关键技术》的报告，报告中提到，他带领团队研究了模拟电路主要元件在退化过程中参数变化的规律，提出了可应用于模拟电路的特征参量优选方法，以及定量地表征模拟电路元件的退化程度。提出了粒子滤波算法和相关向量机算法的优化方法，并基于优化的粒子滤波算法和相关向量机算法，提出了精度高和实时性强的模拟电路故障诊断与预测算法。上述研究成果对于提高复杂电子系统可靠性、安全性和任务成功性，提高保障效能、降低保障费用具有重要意义。
        之后进入到Panel环节，四位专家就《集成电路测试教育教学与培训》一题展开讨论并与现场人员互动。期间教材的稀缺性、国内教材的规范性，招生难、留人难，理论与实践如何更好的相结合等多个问题被相继提出，专家们群策群力，在引入实时案例、加大国外教材翻译力度、鼓励集成电路教职人员录制教课视频进行网课推广，与国内外知名企业合作开展实践课程等方面提出了许多切实可行的方案与展望，对集成电路测试专委的未来工作方向提出了期望。论坛在热烈的讨论中圆满结束。